Sigmadyne SigFit(光机热耦合分析工具)

SigmadyneSigFit是一款光机热耦合分析工具，自适应控制仿真、用蒙特卡罗方法进行变化分析、计算动态响应波前误差与光学分析软件连接和视线误差，可广泛应用于空间相机、红外光学镜头、激光引信等领域。

　　Sigmadyne SigFit是一款光机热耦合分析工具，自适应控制仿真、用蒙特卡罗方法进行变化分析、计算动态响应波前误差(与光学分析软件连接)和视线误差，可广泛应用于空间相机、红外光学镜头、激光引信等领域。

功能介绍

　　1、基本功能

　　将热分析与机械分析的温度、应力和变形量等通过泽尼克多项式拟合或点阵图插值，为光学分析软件提供光学表面的变形信息和温度和应力引起的折射率变化信息，从而实现热、机械及光学的耦合分析。

　　多项式拟合：将多种输入格式的数据拟合为多项式。多项式类型包括标准和边缘Zernike 多项式、非球面多项式、X-Y多项式等九种格式。拟合结果包括多项式系数、光学工具输入宏文件、拟合RMS 和PV 值等

　　表面变形插值：将光学测试的试验数据或有限元仿真的网格数据插值为一个数组或者另一种网格结果，以用于仿真预测结果与光学测试结果的对比或描述Zernike 多项式无法准确描述的光学表面变形

　　2、高级应用

　　主动控制：分析光学面形RMS值随激励源数目的变化关系，分析如何布置激励源使光学表面RMS 更小，为施加激励源的位置和大小提供参考

　　动态响应：基于固有频率结果、激励载荷和阻尼等，计算面形由于谐波振动、随机振动和瞬态载荷引起的刚体位移、曲率变化和RMS 误差、传递函数变化以及各阶模态对RMS 的影响等

　　设计优化（仅MSC Nastran）：将光学表面的Zernike系数、面型RMS 值、PV 值等参数转变为Nastran 格式的方程，利用Nastran 的优化求解器对光学表面的面型、支撑结构、材料参数等进行优化。

　　光程差分析：根据有限元分析的镜面应力和温度结果、流体软件计算的镜面附近流体的密度以及这些参数对折射率的影响关系，计算为平均光程差、双折射等光学特性